検査装置

外観検査装置 EIT

可視光カメラとLED照明を用いた外観検査装置です。

お客様の製品仕様に応じ検査アプリ・検査治具の開発を行い、最終的にカスタム装置としてご提供しております。

また、IoTなど生産システムに対する検査条件の情報紐づけなども仕様に応じ、開発しております。

リードフレーム外観検査装置

リードフレーム(電子部品)のめっき外観や、キズ、変形、異物などの検査を行う装置です。
ワークサイズは、幅100mm×長さ300mmまで対応でき、QFN製品も検査が可能です。
リードフレーム以外にも、パワー系基板、金属板、ガラス基板、トレー内電子部品などの検査への適用可能です。
 
 

 
以下は、弊社内の検査装置で検出した欠陥事例です。

■検出欠陥項目1

  • 外観検査装置 EIT めっき漏れ

    めっき漏れ

  • 外観検査装置 EIT めっき未着

    めっき未着(リード先端)

  • 外観検査装置 EIT めっきエリア大

    めっきエリア大

  • 外観検査装置 EIT Ag屑

    Ag屑

  • リード間異物

    リード間異物

  • 外観検査装置 EIT Ag面傷

    Ag面傷

  • 外観検査装置 EIT 異物めっき面

    異物(めっき面)

  • 外観検査装置 EIT 変色

    変色

  • 外観検査装置 EIT 異物半透明

    異物(半透明)

  • 外観検査装置 EIT リード変形

    リード変形(ピッチ計測)

  • 外観検査装置 EIT エッチング残り

    エッチング残り

■検出欠陥項目2

  • 外観検査装置 EIT 異物

    異物

  • 外観検査装置 EIT パッケージクラック

    パッケージクラック

  • 外観検査装置 EIT パッケージボイド

    パッケージボイド

  • 外観検査装置 EIT モールド面傷

    モールド面傷

  • 外観検査装置 EIT ダイパッド樹脂残り

    ダイパッド樹脂残り

  • 外観検査装置 EIT ダイパッド面傷

    ダイパッド面傷

  • 外観検査装置 EIT めっき面変色

    めっき面変色

  • 外観検査装置 EIT 側面樹脂残り

    側面樹脂残り

  • 外観検査装置 EIT ダム樹脂残り

    ダム樹脂残り

■リードフレーム検査 仕様一覧

対象ワーク リードフレーム、PKGリードフレーム
欠陥検出
サイズ
短辺10μm 以上の欠陥(分解能7μm、視野幅100mmの場合) ※1
検査時間 3秒/250mm 1スキャン(8Kラインセンサ適用時) ※2
適用カメラ ラインカメラ(16K、12K、8K)、エリアカメラ(25M、12M)
主な
検査項目
リード隙間、変形、傷、打痕、欠損、凹凸、ピンホール、異物、変色、めっき欠陥(未着、漏れ、エリア)、テープ位置、DP有無 ※3
画像処理 位置決め、2値化、マスク(濃度、領域)、膨張・収縮
検出処理 2値化、パターンマッチング(サイズ・面積・短長比)、粒子解析(個数・サイズ)
PCスペック OS:WIN7 64bit、メモリ:16GB~64GB、HDD:2TB~6TB
機能 照明制御、測長、ポイント輝度値、ラインプロファイル、検査画像保存、メモリ画像検査、ステップ検査、検査ベリファイ
その他 ・画像処理、検出処理、上位通信システムなどのカスタム開発(有料)も承ります
・検査装置、画像処理ユニット販売、インライン検査いずれも承ります

※1:外観欠陥は30μm以上 ※2:検査項目数による ※3:条件により複数ステージが必要

円筒金属加工品外観検査装置

円筒状の金属表面と内面のキズや凹みなど外観検査を行う装置です。
ワークを自社開発の回転冶具で検査を行います。
Φ1.5mmまでの小径サイズまで検査が可能です。

 

 

■円筒金属検査 仕様一覧

対象ワーク 円筒金属加工品、円筒ゴム製品
欠陥検出
サイズ
短辺30μm 以上の外観欠陥(分解能7μm、視野幅100mmの場合) ※1
検査時間 3秒/150mm 1スキャン(16Kラインセンサ適用時) ※2
適用カメラ ラインカメラ(16K、12K、8K、4K)、エリアカメラ(25M、12M、5M)、内視鏡(VGA)
主な
検査項目
変形、傷、打痕、異物、変色、カケ、加工ムラ、凹凸、ピンホール、文字検査 ※3
画像処理 位置決め、2値化、マスク(濃度、領域)、膨張・収縮、領域自動認識 ※4
検出処理 2値化、パターンマッチング(サイズ・面積・短長比)、粒子解析(個数・サイズ)
PCスペック OS:WIN7 64bit、メモリ:16GB~64GB、HDD:2TB~6TB
機能 照明制御、測長、ポイント輝度値、ラインプロファイル、検査画像保存、メモリ画像検査、ステップ検査
その他 ・画像処理、検出処理、上位通信システムなどのカスタム開発(有料)も承ります
・検査装置、画像処理ユニット販売、インライン検査、検査ベリファイいずれも承ります

※1:ワーク表面状態による ※2:検査処理条件による ※3:条件により複数ステージが必要 ※4:条件による

開発コンセプト

開発コンセプト

検査原理

検査原理

評価環境

お客様の多種多様なサンプルワークに対応するため、様々な評価冶具(回転冶具、直進冶具など)や光学機器を用意して、評価のご依頼をお待ちしております。

評価用冶具(回転検査用)